測定装置

半導体カーブトレーサ †

ダイオードやトランジスタ等の半導体デバイスの電圧・電流の静特性を測定するための装置です。

小容量のデバイスを測定するための装置(370B)と，大容量のデバイスを測定するための装置(371B)があります。

型番仕様導入時期備考
テクトロニクス 370B最大コレクタ電圧 2000 VH17.7.29小容量デバイス用
電流検出感度 100 pA/div
テクトロニクス 371B最大コレクタ電圧 3000 VH18.9.26大容量デバイス用
最大コレクタ電流 400 A
ケースレー 4200-SCS4210CVU + 高電圧BiasTH24.2.23高電圧CV測定
最大電圧 5000V
アジレント B1505AP3kV/500A/C-V/Fixture PackH26.1.22高電圧大電流IV測定,高電圧CV測定
PS-X10-100 高電圧ブロッキングキャパシタ
トップ   編集 凍結 差分 バックアップ 添付 複製 名前変更 リロード   新規 一覧 単語検索 最終更新   ヘルプ   最終更新のRSS
Last-modified: 2015-02-23 (月) 17:39:12 (3343d)