測定装置

半導体カーブトレーサ †

ダイオードやトランジスタ等の半導体デバイスの電圧・電流の静特性を測定するための装置です。

小容量のデバイスを測定するための装置(370B)と，大容量のデバイスを測定するための装置(371B)があります。

型番仕様導入時期備考
テクトロニクス 370B最大コレクタ電圧 2000 VH17.7.29小容量デバイス用
電流検出感度 100 pA/div
テクトロニクス 371B最大コレクタ電圧 3000 VH18.9.26大容量デバイス用
最大コレクタ電流 400 A
トップ   新規 一覧 単語検索 最終更新   ヘルプ   最終更新のRSS