半導体カーブトレーサのバックアップソース(No.2)

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- 1 (2013-05-01 (水) 17:02:49)
- 2 (2013-05-01 (水) 17:03:03)

[[測定装置]]

* 半導体カーブトレーサ [#p6169e6b]

ダイオードやトランジスタ等の半導体デバイスの電圧・電流の静特性を測定するための装置です。

小容量のデバイスを測定するための装置(370B)と，大容量のデバイスを測定するための装置(371B)があります。

|型番|仕様|導入時期|備考|
|テクトロニクス 370B|最大コレクタ電圧 2000 V|H17.7.29|小容量デバイス用|
|~|電流検出感度 100 pA/div|~|~|
|テクトロニクス 371B|最大コレクタ電圧 3000 V|H18.9.26|大容量デバイス用|
|~|最大コレクタ電流 400 A|~|~|

半導体カーブトレーサ のバックアップソース(No.2)

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