[[測定装置]]

当研究室で保有している周波数特性の評価装置です。

電子回路や電気回路における信号の通過・反射電力の周波数特性の測定に用います。

SiCやGaN，ダイヤモンド等のワイドバンドギャップ半導体の高速なスイッチング動作に対応した電力変換回路の設計・特性評価のため，高周波数まで測定可能なものが揃えてあります。
また電池や電気二重層コンデンサなどの特性を評価するために，超低周波数まで測定可能な周波数応答解析装置も揃えています。
従って，下は0.1mHzから上は20GHzまで広帯域をシームレスに測定可能な設備群となっています。


|装置|型番|仕様|識別|導入時期|備考|
|インピーダンスアナライザ|Agilent 4294A|40Hz～110MHz||H21.7.9||
|~|Agilent E4991B|1MHz～3GHz||H27.1.22|~|
|ネットワークアナライザ|Agilent E5061A|300kHz～1.5GHz||H19.8.22|2ポート|
|~|Agilent E5061B|5Hz～3GHz||H24.3.2|2ポート|
|~|Agilent E5061C|300kHz～20GHz||H23.12.20|4ポート|
|スペクトラムアナライザ|Tektronix RSA3308B|DC～8GHz||H22.9.27|リアルタイム|
|~|Agilent E4402B|100Hz～3.0GHz||H24.3.13||
|周波数応答解析装置|NF FRA 5097|0.1mHz～15MHz|零號機|H23.2.14||
|~|NF FRA 5097|0.1mHz～15MHz|壹號機|H24.1.13||
|B-Hアナライザ|岩通計測 SY-8218|10Hz～10MHz||H26.3.26||
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