測定装置

当研究室で保有している周波数特性の評価装置です。

電子回路や電気回路における信号の通過・反射電力の周波数特性の測定に用います。

SiCやGaN,ダイヤモンド等のワイドバンドギャップ半導体の高速なスイッチング動作に対応した電力変換回路の設計・特性評価のため,高周波数まで測定可能なものが揃えてあります。 また電池や電気二重層コンデンサなどの特性を評価するために,超低周波数まで測定可能な周波数応答解析装置も揃えています。 従って,下は0.1mHzから上は20GHzまで広帯域をシームレスに測定可能な設備群となっています。

装置型番仕様識別導入時期備考
インピーダンスアナライザAgilent 4294A40Hz~110MHzH21.7.9
Agilent E4991B1MHz~3GHzH27.1.22
ネットワークアナライザAgilent E5061A300kHz~1.5GHzH19.8.222ポート
Agilent E5061B5Hz~3GHzH24.3.22ポート
Agilent E5061C300kHz~20GHzH23.12.204ポート
スペクトラムアナライザTektronix RSA3308BDC~8GHzH22.9.27リアルタイム
Agilent E4402B100Hz~3.0GHzH24.3.13
周波数応答解析装置NF FRA 50970.1mHz~15MHz零號機H23.2.14
NF FRA 50970.1mHz~15MHz壹號機H24.1.13
B-Hアナライザ岩通計測 SY-821810Hz~10MHzH26.3.26

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Last-modified: 2015-02-23 (月) 17:42:57 (3350d)