[[測定装置]]

* 半導体カーブトレーサ [#p6169e6b]

ダイオードやトランジスタ等の半導体デバイスの電圧・電流の静特性を測定するための装置です。

小容量のデバイスを測定するための装置(370B)と，大容量のデバイスを測定するための装置(371B)があります。

|型番|仕様|導入時期|備考|
|テクトロニクス 370B|最大コレクタ電圧 2000 V|H17.7.29|小容量デバイス用|
|~|電流検出感度 100 pA/div|~|~|
|テクトロニクス 371B|最大コレクタ電圧 3000 V|H18.9.26|大容量デバイス用|
|~|最大コレクタ電流 400 A|~|~|
|ケースレー 4200-SCS|4210CVU + 高電圧BiasT|H24.2.23|高電圧CV測定|
|~|最大電圧 5000V|~|~|
|アジレント B1505AP|3kV/500A/C-V/Fixture Pack|H26.1.22|高電圧大電流IV測定,高電圧CV測定|
|~|PS-X10-100 高電圧ブロッキングキャパシタ|~|~|
トップ   編集 差分 バックアップ 添付 複製 名前変更 リロード   新規 一覧 単語検索 最終更新   ヘルプ   最終更新のRSS