Return to 研究設備
- A 電源(DC,AC) (2032d)
- B 電子負荷 (2637d)
- C オシロスコープ (1803d)
- D オシロスコープ備品 (1795d)
- E 計測器(パワーアナライザ,DMM) (2337d)
- F ノイズ計測(電波暗室、クロスドメインアナライザ) (2637d)
- G 信号発生器(FG,PG) (2637d)
- H 制御インターフェース(LabVIEW,GPIB,USB_VISA等) (2637d)
- I 実装系(基板加工,ソルダリング,PCB設計ソフト,3D設計ソフト) (2637d)
- J シミュレータ,シミュレーションソフト (2637d)
- K 温度_光学(熱電対ロガー,Irカメラ放射温度計,可視光カメラ,チラー等) (2637d)
- L 計測器(受動部品_Zアナライザ) (2637d)
- M 計測器(半導体_カーブトレーサ) (2637d)
- N アプリケーション(COMS,CQ) (2637d)
- O 熱・信頼性設計(トリスター,熱衝撃,パワーサイクル) (2637d)
- シールドルーム (4463d)
- 実装設備 (3795d)
- 測定装置 (4000d)
- 舟木研究室 (105d)